Добавить в избранное
Форум
Правила сайта "Мир Книг"
Группа в Вконтакте
Подписка на книги
Правообладателям
Найти книгу:
Навигация
Вход на сайт
Регистрация



Реклама




Автор: Д. Ю. Эйдукас, Б. В. Орлов, Л. М. Попель, В. И. Лышенко, О. Н. Шаромет, Н. Н. Данилин,
Название: Измерение параметров цифровых интегральных микросхем
Издательство: М:, Радио и связь
Год: 1982
Страниц: 368
Формат: DJVU, PDF
Размер: 12 МБ

Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля. Для инженерно-технических работников — разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.









ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!







Автор: polyanskiy 19-07-2023, 17:34 | Напечатать |
 
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.





С этой публикацией часто скачивают:

Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.


 MirKnig.Su  ©2024     При использовании материалов библиотеки обязательна обратная активная ссылка    Политика конфиденциальности