Содержание:
Введение 5
Измерения и измерительные приборы 7
Методы измерений 7
Погрешности измерений 8
Классификация электроизмерительных приборов по способу получения отсчета 10
Приборы для измерения электрических величин 11
Приборы для измерения температуры неэлектрическими методами 14
Приборы для измерения температуры электрическими методами 17
Полупроводниковые приборы и их назначение 24
Общие сведения 24
Полупроводниковые диоды 31
Транзисторы 39
Полевые транзисторы 45
Однопереходные транзисторы 48
Тиристоры 50
Фоточувствительные полупроводниковые приборы 54
Излучающие диоды 57
Оптоэлектронные приборы 59
Интегральные микросхемы 61
Конструкции полупроводниковых приборов 63
Технологический процесс производства полупроводниковых приборов 65
Требования к технологическому процессу 65
Методы получения р — n-переходов 66
Получение омических контактов 76
Прогрессивные технологические приемы изготовления полупроводниковых структур 77
Методы присоединения выводов 82
Технологическая схема полупроводникового производства 83
Изготовление пластин и кристаллов 88
Сборка диффузионно-сплавных высокочастотных транзисторов 92
Измерительные схемы и их монтаж 95
Основные понятия о Единой Системе Конструкторской Документации (ЕСКД) 95
Структурные схемы измерительных устройств 101
Источники питания 105
Усилители 110
Импульсные схемы измерительных устройств 113
Сравнивающие устройства 119
Понятие о логических элементах 120
Конструкции измерительных устройств и виды электромонтажа 124
Измерение электрических параметров полупроводниковых приборов 127
Назначение и способы измерений 127
Измерение выпрямительных диодов 130
Измерение высокочастотных и сверхвысокочастотных диодов 138
Измерение импульсных диодов 143
Измерение стабилитронов 145
Измерение тиристоров 148
Измерение биполярных транзисторов 156
Измерение полевых транзисторов 167
Измерение однопереходных транзисторов 171
Измерение варикапов и туннельных диодов 176
Измерение фоточувствительных полупроводниковых приборов 177
Измерение светодиодов 179
Измерение лазерных диодов 180
Измерение оптронов 183
Автоматизация измерений 188
Испытания полупроводниковых приборов 194
Воздействие окружающей среды на полупроводниковые приборы 194
Классификация испытаний 195
Испытания на соответствие требованиям к конструкции 198
Испытания на соответствие требованиям по устойчивости к климатическим воздействиям 200
Испытания на соответствие требованиям по устойчивости к механическим воздействиям 204
Испытания на соответствие требованиям к электрическим параметрам 207
Испытания на надежность и гарантийную наработку 213
Меры защиты полупроводниковых приборов от повреждений 214
Литература 216