Введение

Глава 1. Программная архитектура микроконтроллеров 8051

1.1. Структура внутренней памяти 8051
1.2. Подключение внешней памяти программ и данных
1.3. Система команд микроконтроллера семейства 8051
1.4. Система прерываний
1.5. Параллельные порты ввода/вывода данных

Глава 2. Программирование и отладка в среде Keil uVision

2.1. Преимущества и недостатки языков высокого уровня
2.2. Создание программ в Keil C51
2.3. Синтаксис Keil C51
2.3.1. Символы, ключевые слова и идентификаторы
2.3.2. Форматы данных в Keil C51
2.3.3. Специальные ключевые слова Keil C51
2.3.4. Операторы и выражения в Keil C51
2.3.5. Файлы заголовков Keil C51
2.4. Управление вводом/выводом в Keil C51
2.5. Операции с памятью
2.6. Программирование ввода/вывода через последовательный порт
2.7. Интерфейс с языком ассемблера
2.7.1. Встроенный ассемблерный код
2.7.2. Подпрограммы на ассемблере
2.8. Программирование на языке ассемблера в среде Keil
2.9. Отладка программ в среде Keil uVision

Глава 3. Использование последовательного порта

3.1. Запись данных в последовательный порт
3.2. Чтение данных из последовательного порта
3.3. Прерывание последовательного порта
3.4. Работа с последовательным портом в Keil C51
3.5. Интерфейс систем на базе 8051 с персональным компьютером

Глава 4. Встроенные таймеры

4.1. Режим работы таймера в качестве 16-разрядного таймера
4.2. Прерывания таймеров
4.3. Режим автоперезагрузки
4.4. Счетчики событий
4.5. Таймер 2
4.5.1. Режим автоперезагрузки таймера 2
4.5.2. Режим захвата таймера 2
4.6. Аппаратно-программные решения с использованием таймеров
4.6.1. Измерение частоты
4.6.2. Широтно-импульсная модуляция

Глава 5. Обработка дискретных сигналов

5.1. Обработка входных данных с использованием SPI
5.2. Пользовательские интерфейсы ввода дискретных данных
5.3. Пользовательские интерфейсы вывода дискретных данных

Глава 6. Ввод/вывод аналоговых сигналов

6.1. Обработка аналоговых входных сигналов
6.2. Использование цифро-аналоговых преобразователей

Глава 7. Отображение информации в системах с микроконтроллерами 8051

7.1. Применение семисегментных индикаторов
7.2. Применение жидкокристаллических индикаторов

Заключение