Название: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля Автор: Д. Брандон, У. Каплан Издательство: Техносфера Серия: Мир материалов и технологий Год издания: 2004 Страниц: 384 ISBN: 5-94836-018-0 Формат: DjVu Размер: 12,6 Мб Качество: отличное Язык: русский
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
С этой публикацией часто скачивают:
Методы исследования материалов Название: Методы исследования материалов Автор: Тушинский Л.И., Плохов А.В., Токарев О.А., Синдеев В.И. Издательство: М.: Мир Год: 2004 Формат: PDF...
Материаловедение и технологии электроники Название: Материаловедение и технологии электроники Автор: Капустин В.И., Сигов А.С. Издательство: М.: ИНФРА-М Год: 2014 Формат: pdf Страниц: 427...
Нанотехнологии Название:Нанотехнологии Автор: Пул Ч.., Оуэнс Ф. Жанр: Нанотехнологии Издательство: Техносфера Год выпуска: 2007 Серия: Мир материалов и технологий...
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Навигация
Вход на сайт
Реклама
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля 
