Глава первая. Качество и надежность полупроводниковых приборов и их характеристики 4
1-1. Качество и надежность и методы их контроля 4
1-2. Планирование испытаний 16
1-3. Обработка результатов испытаний и измерений параметров приборов 20
Глава вторая. Физика отказов диодов и транзисторов 29
2-1. Модели процессов отказов 29
2-2. Конструкции диодов и транзисторов 35
2-3. Явления на поверхности кристаллов с переходами 41
2-4. Короткие замыкания и обрывы в диодах и транзисторах 57
Глава третья. Ускоренные испытания и неразрушающий контроль 64
3-1. Ускоренные испытания 64
3-2. Неразрушающий контроль качества полупроводниковых приборов 71
Глава четвертая. Свойства диодов и транзисторов при длительной работе и хранении 86
4-1. Проведение испытаний и получение экспериментальных результатов 86
4-2. Зависимость надежности от условий хранения и режима работы 88
4-3. Основные правила проектирования аппаратуры на диодах и транзисторах 98