Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit DesignКНИГИ » АППАРАТУРА
Название: Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design Автор: Jens Lienig, Matthias Thiele Издательство: Springer Nature Год: 2018 Формат: PDF Страниц: 171 Размер: 10,54 МБ Язык: English
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration's negative impact on circuit reliability.
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
С этой публикацией часто скачивают:
Advanced Circuits For Emerging Technologies Название: Advanced Circuits For Emerging Technologies Автор(ы): Iniewski K. (ed.) Издательство: John Wiley & Sons Год: 2012 Страниц: 613...
CMOS Analog Circuit Design, 3rd edition Название: CMOS Analog Circuit Design, 3rd edition Автор: Phillip E. Allen, Douglas R. Holberg Издательство: Oxford University Press Год: 2012 Формат:...
Circuit Design for Reliability Название: Circuit Design for Reliability Автор: Ricardo Reis and Yu Cao Издательство: Springer Год: 2014 Формат: PDF Размер: 12,3 Мб Язык:...
Навигация
Вход на сайт
Реклама
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design 
