Добавить в избранное
Форум
Правила сайта "Мир Книг"
Группа в Вконтакте
Подписка на книги
Правообладателям
Найти книгу:
Навигация
Вход на сайт
Регистрация



Реклама




Название: Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Автор: Santanu Chattopadhyay
Издательство: CRC Press
Год: 2018
Страниц: 138
Формат: True PDF
Размер: 10 Mb
Язык: English

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.

Table of Contents
Chapter 1: VLSI Testing: An Introduction
Chapter 2: Circuit-Level Testing
Chapter 3: Test-Data Compression
Chapter 4: System-on-Chip Testing
Chapter 5: Network-on-Chip Testing







ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!







Автор: bhaer 4-05-2018, 18:26 | Напечатать |
 
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.





С этой публикацией часто скачивают:

Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.


 MirKnig.Su  ©2024     При использовании материалов библиотеки обязательна обратная активная ссылка    Политика конфиденциальности