Добавить в избранное
Форум
Правила сайта "Мир Книг"
Группа в Вконтакте
Подписка на книги
Правообладателям
Найти книгу:
Навигация
Вход на сайт
Регистрация



Реклама




Название: Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики
Автор: Никитенков Н.Н.
Издательство: Томск: Томский политехнический университет
Год: 2012
Формат: pdf
Страниц: 203
Для сайта: Mirknig.su
Размер: 17 mb
Язык: русский

Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений).
Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния вещества».

Предисловие.
Введение. История и актуальность науки о поверхности и методов ее исследования.
Строение поверхности.
Экспериментальные особенности диагностики поверхности.
Явления, лежащие в основе методов исследования поверхности.
Теоретические основы методов ионной спектроскопии поверхности.
Теоретические основы методов электронной спектроскопии поверхности.
Теоретические основы методов структурного анализа поверхности.
Задачи.
Часто использованные обозначения и аббревиатуры.







ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!







Автор: na5ballov 2-04-2019, 12:15 | Напечатать |
 
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.





С этой публикацией часто скачивают:

Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.


 MirKnig.Su  ©2024     При использовании материалов библиотеки обязательна обратная активная ссылка    Политика конфиденциальности