|
 |
|
 |
|
|
 |
|
 |
|
Название: Основы анализа поверхности и тонких пленок
Автор: Фелдман Л., Майер Д.
Издательство: М.: Мир
Год: 1989
Формат: pdf
Страниц: 344
Размер: 11 mb
Язык: Русский
Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.
|
Автор: na5ballov 8-11-2016, 16:19 | Напечатать |
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
С этой публикацией часто скачивают:
 |
Технология тонких пленок и покрытий Название: Технология тонких пленок и покрытий Автор: Маскаева Л.Н., Федорова Е.А., Марков В.Ф. Издательство: Екатеринбург: Уральский федеральный... |
|
| |
|
 |
Физика поверхности твердых тел Название: Физика поверхности твердых тел Автор: Владимиров Г.Г. Издательство: Лань Год: 2016 Страниц: 349 ISBN: 978-5-8114-1997-5 Формат: PDF... |
| |
|
 |
Введение в физику поверхности (2005) Название: Введение в физику поверхности Автор: Оура К., Лифшиц В.Г. и др. Издательство: М.: Наука Год: 2005 (2006) Cтраниц: 490 Формат: pdf Размер:... |
| |
|
 |
Магнитооптика тонких пленок Название: Магнитооптика тонких пленок Автор: А.К. Звездин, В.А. Котов Издательство: М.: Наука Год: 1988 ISBN: 5-02-013846-0 Серия: Проблемы науки и... |
| |
|
|
|
|
|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
|
|
|
|
|
|
Навигация
Вход на сайт
Реклама
Основы анализа поверхности и тонких пленок 
