Название: Микроскопические методы исследования материалов Автор: Колин Эберхардт, Эшли Кларк Издательство: Техносфера Год: 2007 Формат: PDF Страниц: 372 Размер: 10.2 Мб Язык: русский
За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов.
В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.
Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Материаловедение и технологии электроники Название: Материаловедение и технологии электроники Автор: Капустин В.И., Сигов А.С. Издательство: М.: ИНФРА-М Год: 2014 Формат: pdf Страниц: 427...
Современные оптические исследования и измерения Название: Современные оптические исследования и измерения Автор: Кирилловский В.К. Издательство: Лань Год: 2010 Страниц: 304 ISBN: 978-5-8114-0989-1...
Геофизические исследования скважин Название: Геофизические исследования скважин Автор: В.Н. Косков Издательство: Пермь Год: 2005 Формат: pdf Страниц: 125 Размер: 2.84 MB Язык: русский ...
Введение в методы микроскопического исследования Автор: Гейнц Аппельт Название: Введение в методы микроскопического исследования Издательство: М.: Медгиз Год: 1959 Язык: Русский,пер. с нем. О.И....
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.